本帖最后由 ldmmaggie 于 2015-3-13 15:38 编辑
1. 背景介绍
为支撑“宽带中国”战略实施,促进“宽带普及提速工程”的落实,住建部和工信部编制了《住宅区和住宅建筑内光纤到户通信设施工程设计规范》GB50846-2012(以下简称:《FTTH设计规范》)和《住宅区和住宅建筑内光纤到户通信设施工程施工及验收规范》GB50847-2012(以下简称:《FTTH验收规范》),并联合发布了《关于贯彻落实光纤到户国家标准的通知(建标[2013]36号)》。规范中明确了工程责任界面(如图1所示),即:用户接入点交换局侧的“配线光缆”与配线设备由电信业务经营者负责建设;用户接入点用户侧的“用户光缆”、配线设备和家居配线箱等由住宅建设方负责建设。《FTTH设计规范》中将“新建住宅区和住宅建筑内的地下通信管道、配线管网、电信间、设备间等通信设施应与住宅区及住宅建筑同步施工、同时验收。”列为强制性条款(第1.0.3条)予以规定。
图1 用户接入点与工程界面划分
标注说明:1.配线光缆,2.配线光缆与配线设备间的活动连接器,3.配线设备与光跳纤间的活动连接器,4.光跳纤,5.光跳纤与用户光缆间的活动连接器,6.用户光缆的引入部分,7.楼或单元的光纤接续点(在某些场景中可能不出现),8.用户光缆的垂直部分,9.楼层光纤接续点,10.用户光缆的楼层部分,11.用户光缆与光网络终端设备的连接器
《FTTH设计规范》第6.0.1条规定:“用户接入点至家居配线箱之间的光纤链路应全部检测”。用户光缆性能检测报告成为整个工程验收文件的重要组成部分。本解决方案详细介绍用户光缆的测试方法与仪表选用。
2.用户光缆
2.1光链路构成为确保链路衰减指标,降低故障率,《FTTH设计规范》第6.0.1条和第6.0.2条要求:用户光缆路由中不应采用活动光纤连接器;用户光缆继续、成端宜采用熔接方式;用户接入点配线设备及家居配线性内宜采用熔接尾纤方式成端;现场不具备熔接条件时可采用现场组装预埋光纤连接器成端。根据上述要求及工程界面划分,用户光缆光链路的各组成部分可用图2予以描述。
图2 用户光缆各组成部分示意图
标注说明:1、13——用户接入点和家居配线箱内的光纤连接器器插头,2、12——现场组装预埋光纤连接(与尾纤熔接不同时出现),3、11——成端用尾纤,4、10——成端尾纤熔接点(与现场组装预埋光纤连接不同时出现),5——用户接入点至楼或单元的光缆(G.652D),6——进楼或单元光缆分歧接续点(在某些场景中可能不出现),7——用户光缆的垂直部分,8——楼层配线箱内光纤接续点,9——楼层配线箱至家居配线箱之间的光缆(G.657)
2.2传输指标FTTH工程中所采用的PON(P**ive Optical Network无源光网络)技术,在单根光纤上通过波分复用实现全双工通信,其下行链路采用1490nm波长(数据)和1550nm(模拟电视),上行链路采用1310nm波长。根据用户光缆链路构成,考虑到实际工程中用户光缆多在300米范围以内,为避免现场计算和简化操作,《FTTH设计规范》第8.0.1条规定:“用户接入点用户侧配线设备至家居配线箱光纤链路长度不大于300米时,光纤链路全程衰减不应超过0.4dB。” 对于超过300米的光链路,第8.0.2条规定其衰减值按以下公式计算:
根据光纤传输特性(如图3所示),单向传输时,如果1310nm波长衰减合格,可认为1490nm和1550nm波长衰减也合格(实际工程中用1550nm代替1490nm传输衰减指标)。但单纤双向传输时,由于光纤本身缺陷、熔接点、连接器等可能存在的差异,即使相同波长,也会造成光信号上下行衰减不同。
图3 光纤衰减特性
因此,《FTTH设计规范》第8.0.1条的“条文说明”中指出:“不同波长的光信号在同一条光纤中传输的衰耗是不一样的,这不仅与光纤的类型有关,还与光纤的敷设路由、弯曲情况等有关。因此在目前技术条件下,用户接入点用户侧配线设备至家居配线箱光纤链路的全程衰减不大于0.4dB是指分别采用1310nm及1550nm波长进行测试的全程衰减值。”
3.测试方法
《FTTH验收规范》第6.0.2条规定:“光纤链路衰减指标宜采用插入损耗法进行测试。”《FTTH设计规范》所定义的“用户光缆”光链路特点是:以连接器插头为终端,中间不出现活动连接器和适配器。因此,在使用IEC61280-4-2[3]和IEC14763-3[4][5]规定的“衰减/插入损耗”测试方法时,应注意选择正确的校准方式、测试模型和测试界面。从表1对上述测试方法的比较可知,应选择“三跳纤法”对仪表进行校准,并按“信道”测试模型进行操作,即:将参与校准的适配器保留在仪表测试跳纤末端,并与被测用户光缆的连接器插头直接相连,才能满足《FTTH设计规范》所定义的用户光缆测试界面的要求,获得准确的衰减数据。
表1 IEC定义的使用光源光功率计测试插入损耗方法比较
|